公式タイトルと情報はIP Exchange PlusとPremiumのユーザーのみが利用可能です。
特許 係属中 Electrostatic force microscopy (EFM) is a type of dynamic non-contact atomic force microscopy where the electrostatic force is probed. ("Dynamic" here means that the cantilever is oscillating and does not make contact with the sample). This force arises due to the attraction or repulsion of separated charges.
追加情報の詳細を見るにはIP Exchange PlusまたはIP Exchange Premiumアカウントにアップグレードする必要があります
